美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀

美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀CI-710功能強(qiáng)大，可以非破壞性測(cè)量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜。

美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
?CI-700系列之葉片光譜分析儀CI-710功能強(qiáng)大，可以非破壞性測(cè)量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜
?通過光譜可以定性、定量的研究葉片內(nèi)各組分葉綠素a或b、蛋白質(zhì)、糖、礦物質(zhì)等含量及比例變化
?直觀的光譜圖像和現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ),為植物葉片光合作用、植物遺傳特性、植物脅迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段

美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
?非常便攜，適合于室內(nèi)或野外使用
?非破壞性*密地測(cè)量葉片在400~950nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)的反射率、透射率和吸收率
?掃描速度快，靈敏度高
?USB接口連接UMPC數(shù)據(jù)處理終端
?樣品類型，葉片或扁平的物體

美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀標(biāo)準(zhǔn)配置：
?光譜探測(cè)器、CI-700LP葉夾、光纖、UMPC數(shù)據(jù)終端、光譜分析軟件、說明書、便攜式儀器箱

美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀技術(shù)參數(shù)：